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xiaozhaoran金蟲 (正式寫手)
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[求助]
請問測試LaB6標準xrd后應該怎么操作才能夠從中獲取儀器信息呢 已有2人參與
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RT,一直搞不明白,測了LaB6標準晶體的xrd峰,怎么就得到xrd測試儀器的儀器半峰寬呢。是把LaB6的數據放到GSAS里面精修一下嗎,此時得到的GW,GV等值就是儀器的信息嗎?還是怎么操作? 希望大佬給個解釋呀,在此跪謝了 @lich666 |
金蟲 (正式寫手)
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銅蟲 (小有名氣)
金蟲 (正式寫手)
金蟲 (正式寫手)
鐵桿木蟲 (著名寫手)
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我不是大佬,試著回答一下你的問題。你實際上問了兩個問題,一個是LaB6怎么得到儀器展寬,另一個是LaB6的精修結果在GSAS中意味著啥。 簡單的說,就是認為LaB6自身沒有展寬,你所觀察到的峰寬,全部來自于儀器展寬。 首先你要清楚峰寬的來源,這包括了儀器展寬、晶粒尺寸展寬(謝樂公式)、微觀應變展寬。沒有這些原因,理想情況下,我們不會看到展寬的衍射峰,而是看到垂直于橫軸的豎直線。但是實際儀器總是會導致展寬,狹縫總要有寬度把,光源也不是幾何的線,X射線焦斑總有寬度,索拉狹縫再密也會有不嚴格平行光穿過,這些等等等等因素,都會導致不那么嚴格符合布拉格公式的光束進入檢測器,換言之,這些因素都是是儀器本身展寬的原因。 至于晶粒尺寸和微觀應變,你自己翻教材吧。 那么怎么確定儀器的展寬呢。最簡單的做法,就是用標準樣品,常用的有NIST的LaB6和Si粉。其中LaB6的測試結果通常比Si粉小。所以各大儀器的宣傳中,都是以LaB6的峰寬為宣傳口徑。至于為什么Si粉的半峰寬會大一些,有些人認為是Si粉本身還是有晶粒尺寸的影響。但是馬禮敦老爺子認為這和透明度有關。LaB6中有重金屬La,所以X光穿透深度比Si粉淺,所以Si粉的峰寬要大一些。 GSAS中,你可以直接精修LaB6的數據,把得到的GU、GV、GW、LX、Ly這些參數作為初始的儀器參數。然后精修GP、GU、LX和Ly這些參數,通過GP和“GU的變化量”來獲得晶粒尺寸,大概是這樣吧,我好久沒去用GSAS求晶粒尺寸了,你可以查一下GSAS的操作說明書。 我個人覺得GSAS這么做非常不友好,MAUD在這一點上好得多,物理意義明確。MAUD也有儀器文件,這些UVW參數都固定在儀器文件中,然后MAUD中就有專門對應晶粒尺寸和微觀應變的參數,軟件調整的也是這兩個參數,物理意義要明確的多。 |
金蟲 (正式寫手)
鐵桿木蟲 (著名寫手)
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使用LaB6確定儀器展寬,這只是方法的一種,或者叫做實驗的方法。還有計算的方法,就是用狹縫寬度,測角儀半徑,焦斑長度等等參數使用適當的模型計算出一個儀器展寬來,TOPAS中的基本參數法應該用的就是計算方法,所以TOPAS開始前會讓使用者輸一大堆參數。 發(fā)自小木蟲Android客戶端 |
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