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如何測(cè)量壓電材料的殘余應(yīng)力,現(xiàn)在有成熟的方法嗎? 已有2人參與
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請(qǐng)教各位前輩,現(xiàn)在有沒有成熟的手段測(cè)PZT薄膜的殘余應(yīng)力。現(xiàn)在將薄膜沉積在芯片上,薄膜部分位置出現(xiàn)翹曲,想通過非破壞的方式測(cè)出殘余應(yīng)力。 看文獻(xiàn)好像可以用XRD測(cè),但是如果薄膜是各向異性或者有較強(qiáng)織構(gòu),XRD傳統(tǒng)的sin2ψ測(cè)量方法是測(cè)不準(zhǔn)的,請(qǐng)問哪位前輩知道怎么測(cè)?謝謝。 |
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