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鍵德介紹|探針臺有哪些類型?
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探針臺根據測試對象的差異,可以分成晶圓探針臺和晶粒探針臺。下面鍵德測試測量小編就為大家詳細介紹下。 (1)晶圓探針臺: 晶圓探針臺是對未切割晶圓上的器件進行特性或故障檢測而使用的測試設備,主要應用在集成電路、分立器件領域。探針臺與測試機連接后,能自動完成對晶圓上全部裸芯片的電參數測試及功能測試。晶圓探針臺通過高精密四維平臺,微米級的定位精度,實現晶圓上 PAD 點與探針卡上的探針可靠接觸,從而實現對晶圓上裸芯片的測試,并將測試結果記錄或者標識標志點,在下道工序進行處理。晶圓探針臺毛利率整體上高于晶粒探針臺。深圳矽電招股書披露其晶圓探針臺的毛利率約為48-51%。 (2)晶粒探針臺: 晶粒探針臺是對晶圓劃片后的裸晶粒進行檢測的探針測試設備,主要應用于光電器件領域。由于晶圓劃片后晶粒位置會發(fā)生變化,晶粒探針臺需通過全掃描排序記錄每顆晶粒的具體位置,在測試時根據所記錄的位置運動與對應的探針接觸,并標記出測試結果。毛利率為34-41%。 以上關于探針臺類型就為大家分享到這里,探針臺市場發(fā)展前景與半導體制造工藝迭代、半導體產量提升密切關聯。采用先進工藝制造的芯片具備更復雜、更緊湊的結構特征,芯片測試過程要求探針臺具備更高的操控精度;而應用場景的拓寬以及芯片結構尺寸的縮小又引發(fā)芯片產量以及測試需求上升,因此業(yè)界對探針臺設備的需求量及性能要求持續(xù)提高,探針臺市場規(guī)?焖侔l(fā)展。 |
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