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learzheng新蟲(chóng) (初入文壇)
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[交流]
HiPIMS等離子體“稀薄效應(yīng)”--新鉑科技
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高功率脈沖磁控濺射(HiPIMS)通過(guò)脈沖電源的低占空比(1-10%),得到瞬時(shí)高峰值電流,從而能夠獲得比常規(guī)磁控濺射高三個(gè)數(shù)量級(jí)輝光,輝光放電期間也伴隨著一系列特別的現(xiàn)象,如“等離子體稀薄效應(yīng)”。 稀薄效應(yīng)最早由Rossnagel和Hoffman[1][2]提出,在磁控濺射過(guò)程中,用氣壓測(cè)試探頭測(cè)試靶面等離子體產(chǎn)生過(guò)程中氣體密度下降的現(xiàn)象。解釋這種現(xiàn)象是由于氣體被高能碰撞原子加熱所致,特別是在HiPIMS濺射過(guò)程中,高的峰值電流產(chǎn)生,大量的熱量,使得靶面氣體快速升溫,膨脹稀薄化。Kadlec[3]通過(guò)Montec Carlo模擬靶面稀薄現(xiàn)象,如圖1所示;在HiPIMS濺射過(guò)程中,在脈沖啟動(dòng)的幾微米內(nèi),空氣稀薄效應(yīng)非常強(qiáng),模擬得出在20us之后濺射的金屬離子遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出氣體密度,而且以金屬離子為主;從OES實(shí)際測(cè)量不同電流密度放電下,金屬與氣體粒子變化過(guò)程,如圖2所示[4],證實(shí)稀薄效應(yīng)存在; (a) 探測(cè)到金屬離子種類(lèi)增加,隨著峰值電流增加,Cr離子持續(xù)增加,而氣體粒子變化不大; (b) 電流增加,金屬離子和離子持續(xù)增加; (c) 隨著電流密度繼續(xù)增加到1.6Acm-2,Ar粒子信號(hào)開(kāi)始下降,證實(shí)了稀薄效應(yīng)存在; (d) 峰值電流進(jìn)一步增加,稀薄效應(yīng)被證實(shí),Ar離子和粒子持續(xù)下降。 圖片 圖1 稀薄模型模擬出在靶刻蝕區(qū)域前面隨著脈沖時(shí)間變化Ar氣體密度變化過(guò)程 圖片 圖2 OES探測(cè)不同電流密度下金屬粒子與氣體粒子變化過(guò)程 HiPIMS放電中等離子體“稀薄效應(yīng)”的存在,使得氣體粒子和金屬離子在時(shí)間上存在分離,為后續(xù)HiPIMS工藝中分離氣體離子和金屬離子提供可能,更加方便調(diào)控純金屬離子來(lái)制備膜層工藝。 參考文獻(xiàn): [1] S.M. Rossnagel, H.R. Kaufman, J. Vac. Sci. Technol. A 5 (1987) 2276 [2] D.W. Hoffman, J. Vac. Sci. Technol. A 3 (1985) 561. [3] S. Kadlec, Plasma Processes Polym. 4 (2007) S149. [4] J. Alami, K. Sarakinos, G. Mark, M. Wuttig, Appl. Phys. Lett. 89 (2006) 154104. |

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