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lusunshine新蟲 (正式寫手)
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小角度XRD數(shù)據(jù)如何處理得到薄膜厚度、密度等信息
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| 用小角度XRD表征了樣品:Si基底上100nm左右厚的Al薄膜。得到“.raw”文件,如何處理得到薄膜厚度、密度等信息?用jade軟件可以嗎?如何操作? |
新蟲 (正式寫手)

禁蟲 (文壇精英)
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