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[求助]
求問各位大佬,AFM的輕敲模式能不能測出二氧化硅片上2-3納米左右的介孔
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如題,小弟做出來了二氧化硅片,TEM上能看到明顯的垂直介孔,于是想用AFM測量片的厚度,結(jié)果上測出來的幾個(gè)納米,但是上面的貫穿孔感覺沒測出來(信號(hào)是鋸齒狀,但是沒有到基線),是不是輕敲模式測不出來貫穿孔,或是我的孔徑太小測不出 , |
新蟲 (正式寫手)
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