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chotest
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SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀拼出“天衣無(wú)縫”的3D全景
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限量 x 張
滿 x 可使用;有效期 x 天;過(guò)期可退 |
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“見(jiàn)一葉而知深秋,窺一斑而見(jiàn)全豹” 這句話用來(lái)形容中圖儀器SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀,在超精密加工顯微測(cè)量場(chǎng)景中發(fā)揮的作用恰如其分。 大多數(shù)的場(chǎng)景中,只需檢測(cè)一個(gè)數(shù)十、數(shù)百微米的區(qū)域,即可取得“見(jiàn)微知著”的效果,但在少數(shù)需要檢測(cè)超精密器件表面全貌的場(chǎng)景中,借助中圖儀器SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀的自動(dòng)拼接功能,就能夠快速實(shí)現(xiàn)大區(qū)域、高精度的測(cè)量。 場(chǎng)景一:超光滑的弧形表面 上圖是一款旋轉(zhuǎn)拋物面零件,用于微小位移和角度檢測(cè),其表面具有超光滑、高反、凹面弧形特征,針對(duì)其凹面弧形的檢測(cè)需求,現(xiàn)有的顯微測(cè)量?jī)x器中,原子力顯微鏡和共聚焦顯微鏡,均分別因有損測(cè)量或分辨率不夠的原因而排除,只有以白光干涉為原理的光學(xué)3D表面輪廓儀,能同時(shí)滿足無(wú)損、超高分辨率、耐高反等條件。 針對(duì)完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求,中圖儀器SuperView W1的復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動(dòng)掃描,完美重建其超光滑的表面區(qū)域,不見(jiàn)一絲重疊縫隙。 場(chǎng)景二:粗糙的特征表面 上圖是涂覆在電極棒的催化劑表面全景圖,整體尺寸在7mm左右,中心的催化劑區(qū)域呈低反射率特點(diǎn),而圓環(huán)外呈高反射率特點(diǎn),整體的輪廓尺寸和微觀的輪廓起伏反映了涂覆的質(zhì)量。 根據(jù)客戶精度要求,可將重建算法切換為高速掃描的FVSI重建算法,并可依據(jù)表面粗糙程度,選擇不同步距進(jìn)行速度調(diào)節(jié)。 場(chǎng)景三:粗糙的有孔洞特征平面 上圖為手機(jī)插卡槽處的金屬薄片模塊,需要測(cè)量不含凹面區(qū)域的表面輪廓和平整度,因其表面較為粗糙且指定了測(cè)量區(qū)域,可使用高速FVSI算法,并在拼接測(cè)量設(shè)定時(shí),使用地圖導(dǎo)航功能,在掃描時(shí)即可自動(dòng)跳過(guò)凹面區(qū)域完成其余整體形貌的拼接測(cè)量。 自動(dòng)拼接功能的使用,并不局限在上述三種案例當(dāng)中,光滑或是粗糙、平面或是異形結(jié)構(gòu),當(dāng)必須測(cè)量超出適配鏡頭下的單視場(chǎng)區(qū)域時(shí),都可以采用自動(dòng)拼接,而中圖儀器SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀,可根據(jù)不同表面特點(diǎn)進(jìn)行重建算法的切換,無(wú)論何種形貌,都可生成“天衣無(wú)縫”的3D全景。 |
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