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關(guān)于TEM條紋表征 已有1人參與
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樣品如果只有TEM晶格條紋,標定出來晶格條紋能根據(jù)查閱的卡片確定晶面么,再有如果含有兩個交叉的條紋,標定出來的兩個晶面(hkl)和倆條紋夾角有啥對應(yīng)關(guān)系么,真心求解決! 發(fā)自小木蟲IOS客戶端 |
專家顧問 (文壇精英)
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是這樣的,因為無法把東西提取出來,因為加的東西單一,所以基本可以確定是什么,但xrd不好做,但是tem有些能拍到多向條紋,請問怎么多向條紋之間有什么規(guī)律可以說明晶面的呢,比如夾角之類的,這塊不是很懂,請您賜教 發(fā)自小木蟲IOS客戶端 |
專家顧問 (文壇精英)
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專家經(jīng)驗: +1654 |
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顆粒小又多晶的話建議做電子衍射,拿到多晶環(huán)圖譜分析,比較類似xrd的信息。高分辨透射拿到的多向條紋分析起來難度大很多,你要非常清楚晶體學對稱性和單晶衍射原理,不同晶系結(jié)構(gòu)角度都完全不一樣的,如果不是專門想搞這個我建議你還是別碰了,或者重頭看書學,不是幾句話的事情 發(fā)自小木蟲Android客戶端 |
木蟲 (著名寫手)
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晶格條紋和晶面有基本的對應(yīng)關(guān)系的,你可以根據(jù)圖像量取的晶面間距去初步判斷晶面,如果能看到兩條交叉的條紋,說明觀察方正接近一個低指數(shù)正軸,晶格條紋角度和實際晶面角度一般是一致的。 如果要想精確分析,建議和電子衍射結(jié)合起來,晶面間距量取誤差會大些。 另外建議樓主可以放下圖,這樣方便大家了解你的具體問題,然后給出恰當?shù)慕ㄗh 發(fā)自小木蟲Android客戶端 |
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