| 5 | 2/1 | 返回列表 |
| 查看: 2419 | 回復(fù): 10 | |||
| 當(dāng)前只顯示滿足指定條件的回帖,點(diǎn)擊這里查看本話題的所有回帖 | |||
drq0564金蟲 (小有名氣)
|
[求助]
準(zhǔn)確測(cè)定晶體元素含量的方法 已有3人參與
|
||
| 各位大神,請(qǐng)問(wèn)用什么方法可以準(zhǔn)確測(cè)定晶體濃度呢?感覺XRF和電子探針都有一定的不準(zhǔn)確性。如能提供測(cè)試方法和測(cè)試單位,萬(wàn)分感謝! |
|
GDMS在幾乎丌需樣品制備(sample preparation)的情形下, 就能對(duì)無(wú)機(jī)粉末, 鍍膜/基材, 和非導(dǎo)電性材料直接檢測(cè), 提供各種元素的信息. ?K?D可以提供包括鍍層(layer)和基材(substrate) 從100%到ppb, 主要元素、微量元素的濃度信息., 檢測(cè)特點(diǎn): 檢測(cè)面積: ~ 50 mm2 可檢測(cè)元素: 全元素分析 (C,O,H,N除外) 探測(cè)極限: sub-ppb to ppt (E12 at/cm3) 偵測(cè)范圍:% - ppt 縱向解析率(Depth Resolution): >= 0.1 μm |
|
本帖內(nèi)容被屏蔽 |
金蟲 (小有名氣)
|
本帖內(nèi)容被屏蔽 |
| 最具人氣熱帖推薦 [查看全部] | 作者 | 回/看 | 最后發(fā)表 | |
|---|---|---|---|---|