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[交流]
橢偏測試薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析交流 已有4人參與
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橢圓偏振(橢偏)光譜技術(shù)儀是一種用于測量薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測量儀器,橢圓偏振光譜測試技術(shù)的測量精度高,適用于各種光學(xué)薄膜,金屬薄膜,有機(jī)薄膜,以及復(fù)雜的多層膜,測試中與樣品沒有接觸,是一種快速便捷的無損檢測技術(shù)。國外主流的橢偏儀包括J A Woollam, Horiba Jobin Yvon, Sentech等,常用數(shù)據(jù)擬合軟件包括CompleteEASE, DeltaPsi2等。 發(fā)一個技術(shù)交流帖子,感興趣的朋友可以一起討論模型分析,數(shù)據(jù)擬合等相關(guān)技術(shù)問題。 ![]() 關(guān)鍵字:橢偏,橢偏測試,橢偏儀,薄膜厚度,光學(xué)常數(shù) |

銀蟲 (正式寫手)
新蟲 (著名寫手)

新蟲 (著名寫手)
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[考研]
085600 英一數(shù)二272求調(diào)劑
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[論文投稿]
通訊作者寫誰,問題是你意想不到的問題
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[考研] 11408,學(xué)碩276求調(diào)劑 +3 | 崔wj 2026-03-02 | 5/250 |
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[考研] 材料085601調(diào)劑 +5 | 多多子. 2026-03-02 | 5/250 |
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[考研] 322求調(diào)劑 +3 | 熊境喆 2026-03-01 | 3/150 |
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